静电放电试验（ESD Test）：用于评估设备在静电放电事件下的抗扰度能力。通过模拟静电放电事件，测量设备的响应，评估其抗静电放电干扰的能力。

射频辐射抗扰度试验（RF Radiated Immunity Test）：用于评估设备在射频辐射场下的抗干扰能力。通过暴露设备在模拟射频辐射场中，测量设备的响应，评估其抗射频辐射干扰的能力。

脉冲群试验（Transient Burst Test）：用于评估设备对电快速瞬变（如瞬态电压或瞬态电流）的抗干扰能力。通过施加模拟脉冲群信号，测量设备的响应，评估其抗脉冲群干扰的能力。

浪涌试验（Surge Test）：用于评估设备对浪涌电流的抗干扰能力。通过施加模拟浪涌电流脉冲，测量设备的响应，评估其抗浪涌干扰的能力。

传导抗扰度试验（Conducted Immunity Test）：用于评估设备对传导干扰的抗干扰能力。通过施加模拟传导干扰信号，测量设备的响应，评估其抗传导干扰的能力。

工频磁场试验（Power Frequency Magnetic Field Test）：用于评估设备在工频磁场环境下的抗干扰能力。通过暴露设备在模拟工频磁场中，测量设备的响应，评估其抗工频磁场干扰的能力。

电压跌落试验（Voltage Dip Test）：用于评估设备对电源电压跌落的抗干扰能力。通过模拟电源电压短暂降低，测量设备的响应，评估其抗电压跌落干扰的能力。

这些测试都是为了确保设备在不同的干扰环境下能够正常工作，并且不受到干扰或损坏。通过进行这些测试，可以评估设备的抗扰度能力，并确保其符合相关的标准和规定。